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垂直显像SMI

垂直显像SMI

垂直显像SMI是1996年在SMI与SPDM的基础上开发出来的,能在奈米等级上最快分析完整的3D细胞结构的光学显微镜,有效的纳米级光学分辨率,在解析2D图像能达到5 nm,而在解析3D图像能达到40 nm,所以比起以Abbe定律所算出来的物理极限200 nm还要更佳。 Abbe在1873年提出理论上光学显微镜的分辨率限制假说。

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